A microscopia eletrônica de varredura Hitachi tem uma vantagem técnica mais óbvia

O Microscópio Eletrônico de Varredura Hitachi é um excelente instrumento eletrônico desenvolvido na década de 1960. Usando o Microscópio Eletrônico de Varredura Hitachi, você pode investigar a aparência da amostra em massa e, em seguida, desenhar o conceito do layout estereoscópico da amostra. O sistema de iluminação do microscópio eletrônico de varredura do nascer do sol é semelhante ao da microscopia eletrônica de transmissão. Mas não é o mesmo que o microscópio eletrônico de varredura tem algumas necessidades únicas, como o condensador após a chegada da amostra ao feixe de elétrons deve ser de diâmetro muito pequeno da sonda de elétrons; feixe de elétrons pode ser usado para varredura de movimento; o plano final do condensador deve ser fácil de sinalizar Coletando e assim por diante. A microscopia eletrônica de varredura Hitachi é principalmente o uso de imagem de sinal eletrônico secundário para observar a morfologia da superfície da amostra, ou seja, com um feixe de elétrons muito estreito para escanear a amostra, através da interação do feixe de elétrons com a amostra para produzir uma variedade de efeitos , que é a principal amostra de emissão de elétrons.
BBBBBBB BBBBBBB BBBBBBB Estrutura do Microscópio Eletrônico de Varredura Hitachi:
BBBBBBB O Microscópio Eletrônico de Varredura Hitachi consiste em três componentes principais: um sistema de vácuo, um sistema de feixe de elétrons e um sistema de imagem.
BBBBBBB Sistema de vácuo - principalmente incluindo bomba de vácuo e coluna de vácuo de duas partes. A coluna de vácuo é um recipiente cilíndrico selado. A bomba de vácuo é usada para gerar vácuo na coluna de vácuo.
BBBBBBB Sistema de feixe de elétrons ---- sistema de feixe de elétrons consiste em arma de elétrons e lente eletromagnética composta por duas partes, usado principalmente para produzir um feixe de distribuição de energia é muito estreito, energia de elétrons para determinar o feixe de elétrons para imagens de varredura. As pistolas de elétrons são usadas para gerar elétrons, principalmente usando o efeito de emissão de campo para produzir elétrons e usar o efeito de emissão de calor para produzir elétrons.
BBBBBBB Sistema de imagem ---- eletrônico através de uma série de feixes de lentes eletromagnéticas, atingiu a amostra e a interação da amostra, produzirá elétrons secundários, elétrons dispersos de volta, couro eletrônico e raios-X e uma série de sinais. Assim, diferentes detectores, como detectores de elétrons secundários, analisadores de espectro de raios-X, etc., são necessários para distinguir esses sinais para obter as informações desejadas.
BBBBBBB Princípio do Microscópio Eletrônico de Varredura Hitachi
BBBBBBB O princípio de funcionamento da microscopia eletrônica de varredura da Hitachi é principalmente o uso de imagens eletrônicas secundárias, o princípio de funcionamento da microscopia eletrônica de varredura da Hitachi é este: a partir do filamento do canhão de elétrons emitido pelo diâmetro de cerca de 20 ~ 35μm feixe de elétrons, pelo ânodo 1 ~ 40kV de alta pressão acelerando Tubo de espelho, e pelo primeiro, espelho dimerizado e a convergência da lente objetiva, estreitou em um diâmetro de cerca de dezenas de angstroms do feixe de elétrons estreito disparado na amostra.
BBBBBBB Ao mesmo tempo, o jugo de deflexão faz com que o feixe de elétrons seja escaneado em uma grade na amostra. A interação do feixe de elétrons com a amostra produzirá uma variedade de sinais, sendo o mais importante deles os elétrons secundários. Já o circuito que controla a bobina de varredura do feixe de elétrons para controlar o feixe de elétrons também controla a varredura do feixe de elétrons do tubo de imagem na tela. Microscópio Eletrônico de Varredura Hitachi Desta forma, como a tela da TV na mesma, pouco a pouco, alinham-se para formar um like.
BBBBBBB A imagem é uma imagem estereoscópica que reflete a estrutura da superfície da amostra. A fim de tornar a superfície do espécime emitidos elétrons secundários, espécimes no fixo, desidratado, para pulverizar uma camada de partículas de metais pesados, metais pesados ​​no feixe de elétrons sob o bombardeio de sinais eletrônicos secundários.