Hitachi 주사 전자 현미경은 보다 분명한 기술적 이점이 있습니다.

Hitachi 주사 전자 현미경은 1960년대에 개발된 정밀 전자 기기입니다. Hitachi 주사 전자 현미경을 사용하여 벌크 샘플의 모양을 조사한 다음 샘플의 입체 레이아웃 개념을 그릴 수 있습니다. 일출 주사 전자 현미경 조명 시스템은 투과 전자 현미경의 조명 시스템과 유사합니다. 그러나 주사 전자 현미경은 전자 빔에 샘플이 도착한 후 콘덴서에 의해 전자 프로브의 직경이 매우 작아야 하는 것과 같은 몇 가지 고유한 요구가 있다는 것과 동일하지 않습니다. 전자빔은 스캐닝 움직임에 사용될 수 있습니다. 최종 콘덴서 계획은 수집 등을 알리기 쉬워야 합니다. Hitachi 주사 전자 현미경은 주로 2차 전자 신호 이미징을 사용하여 샘플의 표면 형태를 관찰합니다. 즉, 매우 좁은 전자빔으로 샘플을 스캔하여 다양한 효과를 생성하는 샘플과의 전자빔 상호 작용을 통해 , 이는 주요 샘플 전자 방출입니다.
쩝쩝쩝 쩝쩝쩝 쩝쩝쩝 히타치 주사 전자 현미경 구조:
쩝쩝쩝 Hitachi 주사 전자 현미경은 진공 시스템, 전자빔 시스템 및 이미징 시스템의 세 가지 주요 구성 요소로 구성됩니다.
쩝쩝쩝 진공 시스템 - 주로 진공 펌프와 진공 컬럼 두 부분을 포함합니다. 진공 컬럼은 밀봉된 원통형 용기입니다. 진공 펌프는 진공 컬럼에서 진공을 생성하는 데 사용됩니다.
쩝쩝쩝 전자빔 시스템 ---- 전자빔 시스템은 전자총과 두 부분으로 구성된 전자기 렌즈로 구성되며 주로 에너지 분포의 묶음을 생성하는 데 사용되며 전자 에너지는 스캐닝 이미징을 위한 전자빔을 결정하는 매우 좁습니다. 전자총은 전자를 생성하는 데 사용되며 주로 전계 방출 효과를 사용하여 전자를 생성하고 열 방출 효과를 사용하여 전자를 생성합니다.
쩝쩝쩝 이미징 시스템 ---- 일련의 전자기 렌즈 번들을 통해 전자, 샘플 및 샘플 상호 작용을 통해 2 차 전자, 후방 산란 전자, 전자 가죽 및 X 선 및 일련의 신호를 생성합니다. 따라서 원하는 정보를 얻기 위해 이러한 신호를 구별하려면 2차 전자 검출기, X선 스펙트럼 분석기 등과 같은 다양한 검출기가 필요합니다.
쩝쩝쩝 히타치 주사전자현미경 원리
쩝쩝쩝 히타치 주사 전자 현미경 작동 원리는 주로 2차 전자 이미징의 사용이며, 히타치 주사 전자 현미경 작동 원리는 다음과 같습니다. 양극 1 ~ 40kV 고압 가속에 의해 약 20 ~ 35μm 전자빔의 직경에 의해 발행된 전자총 필라멘트에서 미러 튜브 및 첫 번째, 이합체 미러와 대물 렌즈의 수렴에 의해 샘플에 쏘인 좁은 전자빔의 직경이 약 수십 옹스트롬으로 좁아졌습니다.
쩝쩝쩝 동시에 편향 요크는 전자빔이 샘플의 격자에서 스캔되도록 합니다. 시료와 전자빔의 상호작용은 다양한 신호를 생성하며 그 중 가장 중요한 것은 2차 전자입니다. 전자빔을 제어하기 위해 전자빔의 주사코일을 제어하는 ​​회로는 또한 스크린 상의 영상관의 전자빔의 주사를 제어하기 때문이다. 히타치 주사형 전자현미경 이런 식으로 같은 TV 화면처럼 조금씩, 같은 모양으로 줄을 섭니다.
쩝쩝쩝 이미지는 시편의 표면 구조를 반영한 ​​입체 이미지입니다. 시편의 표면이 2차 전자를 방출하도록 하기 위해 시편은 고정, 탈수, 2차 전자 신호의 충격하에 전자빔에 중금속 입자, 중금속 층을 분무합니다.