La microscopia elettronica a scansione Hitachi ha un vantaggio tecnico più evidente

Il microscopio elettronico a scansione Hitachi è un raffinato strumento elettronico sviluppato negli anni '60. Utilizzando il microscopio elettronico a scansione Hitachi, è possibile esaminare l'aspetto del campione di massa e quindi tracciare il concetto del layout stereoscopico del campione. Il sistema di illuminazione del microscopio elettronico a scansione sunrise è simile a quello della microscopia elettronica a trasmissione. Ma non è lo stesso che il microscopio elettronico a scansione ha alcune esigenze uniche, ad esempio che il condensatore dopo l'arrivo del campione al fascio di elettroni dovrebbe avere un diametro molto piccolo della sonda elettronica; il fascio di elettroni può essere utilizzato per la scansione del movimento; il piano finale del condensatore dovrebbe essere facile da segnalare in fase di raccolta e così via. La microscopia elettronica a scansione Hitachi consiste principalmente nell'uso dell'imaging del segnale elettronico secondario per osservare la morfologia superficiale del campione, ovvero con un fascio di elettroni molto stretto per scansionare il campione, attraverso l'interazione del fascio di elettroni con il campione per produrre una varietà di effetti , che è il campione principale Emissione di elettroni.



Struttura del microscopio elettronico a scansione Hitachi:

Il microscopio elettronico a scansione Hitachi è costituito da tre componenti principali: un sistema a vuoto, un sistema a fascio di elettroni e un sistema di imaging.

Sistema per vuoto - include principalmente pompa per vuoto e colonna per vuoto in due parti. La colonna del vuoto è un contenitore cilindrico sigillato. La pompa del vuoto viene utilizzata per generare il vuoto nella colonna del vuoto.

Sistema a fascio di elettroni ---- Il sistema a fascio di elettroni è costituito da cannone elettronico e lente elettromagnetica composta da due parti, utilizzate principalmente per produrre un fascio di distribuzione di energia è molto stretto, l'energia elettronica per determinare il fascio di elettroni per la scansione dell'immagine. I cannoni elettronici vengono utilizzati per generare elettroni, utilizzando principalmente l'effetto di emissione di campo per produrre elettroni e utilizzare l'effetto di emissione di calore per produrre elettroni.

Il sistema di imaging ---- elettronico attraverso una serie di fasci di lenti elettromagnetiche, colpisce il campione e l'interazione del campione, produrrà elettroni secondari, elettroni sparsi indietro, pelle elettronica e raggi X e una serie di segnali. Quindi sono necessari rivelatori diversi come rivelatori di elettroni secondari, analizzatori di spettro di raggi X, ecc. Per distinguere questi segnali per ottenere le informazioni desiderate.

Principio del microscopio elettronico a scansione Hitachi

Il principio di funzionamento della microscopia elettronica a scansione Hitachi è principalmente l'uso dell'imaging elettronico secondario, il principio di funzionamento della microscopia elettronica a scansione Hitachi è questo: dal filamento del cannone elettronico emesso dal diametro di circa 20 ~ 35μm di fascio di elettroni, dall'anodo 1 ~ 40kV che accelera ad alta pressione Specchio Tube, e dal primo, specchio dimero e la convergenza della lente dell'obiettivo, si è ristretto in un diametro di circa decine di angstrom del fascio di elettroni stretto sparato sul campione.

Allo stesso tempo, il giogo di deflessione fa scansionare il fascio di elettroni in un reticolo sul campione. L'interazione del fascio di elettroni con il campione produrrà una varietà di segnali, il più importante dei quali sono gli elettroni secondari. Poiché il circuito che controlla la bobina di scansione del fascio di elettroni per controllare il fascio di elettroni controlla anche la scansione del fascio di elettroni del cinescopio sullo schermo. Microscopio elettronico a scansione Hitachi In questo modo, come lo schermo TV sullo stesso, a poco a poco si allineano per formare un like.

L'immagine è un'immagine stereoscopica che riflette la struttura superficiale del campione. Al fine di rendere la superficie del campione emesso elettroni secondari, campioni nel fisso, disidratato, per spruzzare uno strato di particelle di metalli pesanti, metalli pesanti nel fascio di elettroni sotto il bombardamento di segnali elettronici secondari.