La microscopie électronique à balayage Hitachi a un avantage technique plus évident

Le microscope électronique à balayage Hitachi est un instrument électronique de qualité développé dans les années 1960. À l'aide du microscope électronique à balayage Hitachi, vous pouvez étudier l'apparence de l'échantillon global, puis dessiner le concept de la disposition stéréoscopique de l'échantillon. Le système d'éclairage du microscope électronique à balayage sunrise est similaire à celui de la microscopie électronique à transmission. Mais ce n'est pas la même chose que le microscope électronique à balayage a des besoins uniques, tels que le condenseur après l'arrivée de l'échantillon au faisceau d'électrons doit être de très petit diamètre de la sonde électronique; le faisceau d'électrons peut être utilisé pour balayer le mouvement ; le plan final du condenseur doit être facile à signaler Collecte et ainsi de suite. La microscopie électronique à balayage Hitachi est principalement l'utilisation de l'imagerie de signal électronique secondaire pour observer la morphologie de surface de l'échantillon, c'est-à-dire avec un faisceau d'électrons très étroit pour balayer l'échantillon, à travers l'interaction du faisceau d'électrons avec l'échantillon pour produire une variété d'effets , qui est la principale émission d'électrons de l'échantillon.



Structure du microscope électronique à balayage Hitachi :

Le microscope électronique à balayage Hitachi se compose de trois composants principaux : un système de vide, un système de faisceau d'électrons et un système d'imagerie.

Système de vide - comprenant principalement une pompe à vide et une colonne à vide en deux parties. La colonne à vide est un récipient cylindrique étanche. La pompe à vide est utilisée pour générer un vide dans la colonne à vide.

Système de faisceau d'électrons ---- le système de faisceau d'électrons se compose d'un canon à électrons et d'une lentille électromagnétique composée de deux parties, principalement utilisées pour produire un faisceau de distribution d'énergie est très étroite, l'énergie électronique pour déterminer le faisceau d'électrons pour l'imagerie par balayage. Les canons à électrons sont utilisés pour générer des électrons, en utilisant principalement l'effet d'émission de champ pour produire des électrons et en utilisant l'effet d'émission de chaleur pour produire des électrons.

Système d'imagerie ---- électronique à travers une série de faisceaux de lentilles électromagnétiques, frapper l'échantillon et l'interaction de l'échantillon, produira des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés, du cuir électronique et des rayons X et une série de signaux. Ainsi, différents détecteurs tels que des détecteurs d'électrons secondaires, des analyseurs de spectre de rayons X, etc., sont nécessaires pour distinguer ces signaux afin d'obtenir les informations souhaitées.

Principe du microscope électronique à balayage Hitachi

Le principe de fonctionnement de la microscopie électronique à balayage Hitachi est principalement l'utilisation de l'imagerie électronique secondaire. miroir Tube, et par le premier, miroir dimère et la convergence de l'objectif, rétréci dans un diamètre d'environ des dizaines d'angströms du faisceau d'électrons étroit tiré sur l'échantillon.

En même temps, la culasse de déviation provoque le balayage du faisceau d'électrons dans un réseau sur l'échantillon. L'interaction du faisceau d'électrons avec l'échantillon produira une variété de signaux, dont le plus important est celui des électrons secondaires. Etant donné que le circuit qui commande la bobine de balayage du faisceau d'électrons pour commander le faisceau d'électrons commande également le balayage du faisceau d'électrons du tube image sur l'écran. Microscope électronique à balayage Hitachi De cette façon, comme l'écran de télévision sur le même, peu à peu, alignez-vous pour former un semblable.

L'image est une image stéréoscopique qui reflète la structure de surface de l'échantillon. Afin de rendre la surface de l'échantillon émis des électrons secondaires, les échantillons dans le fixe, déshydraté, pour pulvériser une couche de particules de métaux lourds, métaux lourds dans le faisceau d'électrons sous le bombardement de signaux électroniques secondaires.